ПОДІЇ

Директор інституту № 3, проф., д.т.н. Олег Величко 8–9 березня 2023 р. взяв участь (он-лайн) у 33-му засіданні CCЕМ СІРМ від України, яке відбулось у Парижі. Участь у цьому засіданні, яке відбулось за змішаним форматом, взяли більше 70 представників від 26 національних метрологічних інститутів (НМІ) членів ССЕМ (NIST, США; NPL, Велика Британія; LNE, Франція; РТВ, Німеччина, KRISS, Р. Корея; NMIJ, Японія; NIM, Китай; INRIM, Італія; UME, Туреччина; NRC, Канада; NMIA, Австралія та інші), НМІ спостерігач (NIS, Єгипет), запрошені НМІ (у тому числі ДП «УКРМЕТРТЕСТСТАНДАРТ») і гостей.

Головував на засіданні Президент ССЕМ Герт Рітвельд (Нідерланди), а модерував засідання Виконавчий секретар ССЕМ Майкл Сток.

Міжнародний комітет мір і ваг (CIPM) на своєму 112-му засіданні – I сесії вирішив надати ДП «УКРМЕТРТЕСТСТАНДАРТ» статус «Офіційного спостерігача» в Консультативному комітеті з електрики і магнетизму (CCEM). Таке рішення було схвалене після звернення ДП «УКРМЕТРТЕСТСТАНДАРТ» і рекомендації 33-го засідання (пункти 7.2 і 14.2) CCEM. Це є першим кроком до набуття статусу члена ССЕМ, що може бути розглянуто на наступних засіданнях ССЕМ.

Директор Міжнародного комітету мір і ваг (BIPM) д-р Д-р Мартін Мілтон повідомив про це ДП «УКРМЕТРТЕСТСТАНДАРТ» у своєму спеціальному листі (посилання на документ). Він запросив взяти участь у новому статусі у засіданні ССЕМ, яке заплановане на березень 2025 р. у Парижі (BIPM). Зміна статусу вже відображається на наступній сторінці веб-сайту BIPM: https://www.bipm.org/en/committees/cc/ccem/members

Засідання Технічного комітету EURAMET з метрології в хімії (TC-MC) у січні-лютому 2023 р.

Засідання Технічного комітету EURAMET з метрології в хімії (TC-MC) та його підкомітетів відбулися у період з 31.01.2023 до 02.02.2023 у Національному метрологічному інституті Франції (LNE), м. Париж. Цього разу в засіданнях взяли участь понад 80 науковців із 32 країн. У роботі TC-MC та підкомітету з електрохімічного аналізу взяв участь науковий співробітник ДП «УКРМЕТРТЕСТСТАНДАРТ» Антон Петренко.